Optimization of Resistive Loading Of EMI/EMC Near Field Probe
3RD INTERNATIONAL CONFERENCE ON INTELLIGENT MANUFACTURING SYSTEMS, İstanbul, Türkiye, 30 - 31 Ağustos 2001, ss.1-2, (Tam Metin Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
- Basıldığı Şehir: İstanbul
- Basıldığı Ülke: Türkiye
- Sayfa Sayıları: ss.1-2
- Akdeniz Üniversitesi Adresli: Hayır