Atıf İçin Kopyala
YILMAZ M. B., Yanıkoğlu B., Tirkaz Ç., Kholmatov A.
International Joint Conference on Biometrics, Washington, Amerika Birleşik Devletleri, 11 Ekim 2011, ss.1-7, (Tam Metin Bildiri)
-
Yayın Türü:
Bildiri / Tam Metin Bildiri
-
Basıldığı Şehir:
Washington
-
Basıldığı Ülke:
Amerika Birleşik Devletleri
-
Sayfa Sayıları:
ss.1-7
-
Akdeniz Üniversitesi Adresli:
Evet