Backcross Breeding with RAPD Molecular Markers to Enhance Resistance to Common Bacterial Blight in Pinto Beans

MUTLU N.

-, Amerika Birleşik Devletleri, cilt.3, sa.453, ss.34, (Tam Metin Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
• Cilt numarası: 3
• Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
• Sayfa Sayıları: ss.34
• Akdeniz Üniversitesi Adresli: Evet