Enhancing Spatial Resolution and Compositional Sensitivity in non-contact Atomic Force Microscopy using Multi-frequency Excitation

ŞAHİN R., Çelik Ü., Özer H. Ö.

5th Nanoscience and Nanotechnology Conference, Eskişehir, Türkiye, 8 - 12 Haziran 2009, ss.1

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Eskişehir
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.1
  • Akdeniz Üniversitesi Adresli: Hayır